LC2MOS Single +5 V Supply, Low Power, 12-Bit Sampling ADC The AD7880BN is a 12-bit, high-speed, low-power, successive approximation analog-to-digital converter (ADC) manufactured by Analog Devices (AD). Key specifications include:

- **Resolution**: 12 bits
- **Sampling Rate**: Up to 125 kSPS (kilo samples per second)
- **Input Voltage Range**: 0 V to VREF (typically 2.5 V or 5 V)
- **Power Supply**: Single +5 V supply
- **Power Consumption**: 2.5 mW (typical) at 125 kSPS
- **Operating Temperature Range**: -40°C to +85°C
- **Package**: 8-pin PDIP (Plastic Dual In-line Package)
- **Interface**: Parallel
- **Reference Voltage**: Internal 2.5 V reference or external reference option
- **DNL (Differential Non-Linearity)**: ±1 LSB (max)
- **INL (Integral Non-Linearity)**: ±1 LSB (max)
- **Signal-to-Noise Ratio (SNR)**: 72 dB (typical)
- **THD (Total Harmonic Distortion)**: -85 dB (typical)

The AD7880BN is designed for applications requiring high-speed data acquisition with low power consumption, such as in industrial control systems, instrumentation, and communication systems.

LC2MOS Single +5 V Supply, Low Power, 12-Bit Sampling ADC The AD7880BN is a 12-bit, high-speed, low-power, successive approximation analog-to-digital converter (ADC) manufactured by Analog Devices Inc. (ADI). Here are its key specifications:

- **Resolution**: 12 bits
- **Sampling Rate**: Up to 125 kSPS (kilo samples per second)
- **Input Voltage Range**: 0 V to VREF (typically 2.5 V or 5 V)
- **Power Supply**: Single +5 V supply
- **Power Consumption**: 5 mW (typical) at 125 kSPS
- **Interface**: Parallel
- **Operating Temperature Range**: -40°C to +85°C
- **Package**: 20-pin PDIP (Plastic Dual In-line Package)
- **Reference Voltage**: External reference required
- **DNL (Differential Non-Linearity)**: ±1 LSB (max)
- **INL (Integral Non-Linearity)**: ±1 LSB (max)
- **Signal-to-Noise Ratio (SNR)**: 72 dB (typical)
- **THD (Total Harmonic Distortion)**: -80 dB (typical)

These specifications are based on the datasheet and are subject to the operating conditions and test setups described therein.