2-input NAND gate; open drain The 74LVC1G38GM is a single 2-input NAND gate with open-drain output, manufactured by NXP Semiconductors (formerly Philips Semiconductors). Key specifications include:

- **Supply Voltage Range**: 1.65V to 5.5V
- **High Noise Immunity**: Compliant with JEDEC standard JESD8-7 (1.65V to 1.95V), JESD8-5 (2.3V to 2.7V), and JESD8B/JESD36 (2.7V to 3.6V)
- **Low Power Consumption**: Typical ICC of 0.1µA at 3.3V
- **Output Drive Capability**: Open-drain output capable of sinking up to 32mA
- **Operating Temperature Range**: -40°C to +125°C
- **Package**: SOT753 (SC-74A)
- **Propagation Delay**: Typically 4.3ns at 3.3V
- **Input Leakage Current**: ±0.1µA (max) at 5.5V
- **ESD Protection**: Exceeds 2000V HBM per JESD22-A114 and 1000V CDM per JESD22-C101

This device is designed for use in a wide range of applications, including portable devices, automotive systems, and industrial controls.