Triple 3-Input Positive-NAND Gates The SNJ54S10J is a triple 3-input NAND gate manufactured by Texas Instruments (TI).  

### **Specifications:**  
- **Technology Family:** 54S  
- **Supply Voltage Range:** 4.5V to 5.5V  
- **Operating Temperature Range:** -55°C to +125°C  
- **Logic Type:** NAND Gate  
- **Number of Circuits:** 3  
- **Number of Inputs per Gate:** 3  
- **Output Type:** Standard  
- **Propagation Delay:** Typically 6ns (at 5V, 25°C)  
- **Power Dissipation:** Typically 45mW per gate  
- **Package Type:** Ceramic DIP (Dual In-line Package)  
- **Mounting Type:** Through Hole  

### **Descriptions and Features:**  
- High-speed operation  
- Low power consumption  
- Military-grade reliability (MIL-PRF-38535 qualified)  
- Radiation-hardened for aerospace and defense applications  
- Compatible with TTL logic levels  
- Standard military part number (SNJ prefix)  

This device is designed for use in harsh environments and high-reliability applications.

Triple 3-Input Positive-NAND Gates

Triple 3-Input Positive-NAND Gates The SNJ54S10J is a triple 3-input positive NAND gate from Texas Instruments. Here are the manufacturer's specifications, descriptions, and features:

### **Manufacturer:**  
Texas Instruments  

### **Description:**  
The SNJ54S10J is a military-grade, radiation-hardened triple 3-input NAND gate. It is part of the 5400 and 7400 series of logic ICs and operates as a high-speed digital logic gate.  

### **Key Features:**  
- **Logic Type:** Triple 3-Input Positive NAND Gate  
- **Technology:** Schottky TTL (S-Series) for high-speed operation  
- **Supply Voltage (VCC):** 4.5V to 5.5V  
- **Operating Temperature Range:** -55°C to +125°C (military-grade)  
- **Propagation Delay:** Typically 6 ns (at 5V, 25°C)  
- **Power Dissipation:** Typically 45 mW per gate  
- **Output Current (High/Low):** -1.0 mA / 20 mA  
- **Radiation Hardened:** Designed for high-reliability applications  
- **Package Type:** Ceramic DIP (Dual In-line Package)  

### **Applications:**  
- Military and aerospace systems  
- High-reliability digital systems  
- Radiation-hardened environments  

This device is part of Texas Instruments' ruggedized logic family, ensuring performance in extreme conditions.  

Would you like additional details on pin configuration or electrical characteristics?

Triple 3-Input Positive-NAND Gates