SN74BCT8374ANT

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS The SN74BCT8374ANT is a 9-bit buffered D-type flip-flop manufactured by Texas Instruments (TI).  

### **Specifications:**  
- **Technology Family:** BCT (BiCMOS)  
- **Supply Voltage Range:** 4.5V to 5.5V  
- **Operating Temperature Range:** -40°C to +85°C  
- **Output Type:** 3-State  
- **Number of Bits:** 9  
- **Clock Frequency:** Up to 100MHz  
- **Propagation Delay:** 5.5ns (typical)  
- **Input/Output Compatibility:** TTL  
- **Package Type:** PDIP (Plastic Dual In-Line Package)  

### **Descriptions:**  
- The SN74BCT8374ANT is designed for bus-oriented applications, providing high-speed, low-power operation.  
- It features buffered inputs and outputs for improved signal integrity.  
- The 3-state outputs allow for bus sharing in multi-drop systems.  

### **Features:**  
- **9-bit D-type flip-flop with 3-state outputs**  
- **Edge-triggered clocking**  
- **Buffered inputs and outputs**  
- **TTL-compatible inputs**  
- **ESD protection exceeds 2000V (HBM)**  
- **Latch-up performance exceeds 500mA**  

This device is commonly used in data storage, bus interfacing, and signal buffering applications.

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS