Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops The SN74BCT8374ADW is a 9-bit buffered D-type flip-flop manufactured by Texas Instruments (TI).  

### **Key Specifications:**  
- **Logic Type:** D-Type Flip-flop  
- **Number of Bits:** 9  
- **Output Type:** Tri-State  
- **Supply Voltage Range:** 4.5V to 5.5V  
- **Operating Temperature Range:** -40°C to +85°C  
- **Package Type:** SOIC (DW)  
- **Mounting Type:** Surface Mount  
- **Input/Output Compatibility:** TTL  

### **Features:**  
- Buffered inputs and outputs  
- Tri-state outputs for bus-oriented applications  
- High-speed operation  
- Edge-triggered clocking  
- Common output-enable (OE) control  

This device is designed for applications requiring high-speed data storage and bus interfacing.

Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops