Eight Input IEEE 1149.1 Analog Voltage Monitor [Preliminary] The SCANSTA476TSD is a product from National Semiconductor (NS). Below are the factual details about its specifications, descriptions, and features:

### **Manufacturer:**  
National Semiconductor (NS)  

### **Specifications:**  
- **Type:** Boundary Scan Controller  
- **Package:** TSD (likely a surface-mount package, though exact dimensions are not specified here)  
- **Function:** Facilitates IEEE 1149.1 (JTAG) boundary scan testing for board-level interconnect testing  

### **Descriptions:**  
- The SCANSTA476TSD is a boundary scan controller designed to support JTAG testing in complex digital systems.  
- It enables testing and debugging of PCB interconnects, device programming, and system diagnostics.  

### **Features:**  
- **IEEE 1149.1 Compliance:** Supports standard JTAG boundary scan operations.  
- **Multiple TAP Control:** Capable of managing multiple Test Access Ports (TAPs) in a system.  
- **Programmable Logic Interface:** Allows integration with programmable logic devices.  
- **High-Speed Operation:** Optimized for efficient boundary scan testing.  
- **Flexible Configuration:** Supports various scan chain configurations for complex PCB designs.  

For exact electrical characteristics, pinout, or detailed application notes, refer to the official datasheet from National Semiconductor.

Eight Input IEEE 1149.1 Analog Voltage Monitor [Preliminary]