Eight Input IEEE 1149.1 Analog Voltage Monitor [Preliminary] The SCANSTA476TSD is a product from National Semiconductor (NS). Below are the factual details about its specifications, descriptions, and features:

### **Manufacturer:**  
National Semiconductor (NS)  

### **Specifications:**  
- **Type:** Boundary Scan Controller  
- **Package:** TSD (likely a surface-mount package, though exact dimensions are not specified here)  
- **Function:** Facilitates IEEE 1149.1 (JTAG) boundary scan testing for board-level interconnect testing  

### **Descriptions:**  
- The SCANSTA476TSD is a boundary scan controller designed to support JTAG testing in complex digital systems.  
- It enables testing and debugging of PCB interconnects, device programming, and system diagnostics.  

### **Features:**  
- **IEEE 1149.1 Compliance:** Supports standard JTAG boundary scan operations.  
- **Multiple TAP Control:** Capable of managing multiple Test Access Ports (TAPs) in a system.  
- **Programmable Logic Interface:** Allows integration with programmable logic devices.  
- **High-Speed Operation:** Optimized for efficient boundary scan testing.  
- **Flexible Configuration:** Supports various scan chain configurations for complex PCB designs.  

For exact electrical characteristics, pinout, or detailed application notes, refer to the official datasheet from National Semiconductor.