Enhanced SCAN bridge Multidrop Addressable IEEE 1149.1 (JTAG) Port The SCANSTA111SM is a Scan Test Aggregator (STA) manufactured by National Semiconductor (NSC).  

### **Key Specifications:**  
- **Manufacturer:** National Semiconductor (NSC)  
- **Type:** Scan Test Aggregator (STA)  
- **Function:** Facilitates IEEE 1149.1 (JTAG) boundary scan testing for multiple devices.  
- **Features:**  
  - Supports up to 7 independent scan chains.  
  - Allows parallel or serial scan chain configurations.  
  - Provides multiplexing of test data input (TDI) and test data output (TDO).  
  - Includes programmable scan chain selection.  
  - Compatible with IEEE 1149.1 standard.  

### **Descriptions and Features:**  
- Enables efficient testing of complex PCBs by managing multiple JTAG scan chains.  
- Reduces test time by allowing parallel testing of multiple scan chains.  
- Programmable scan chain selection provides flexibility in test configurations.  
- Designed for high-speed boundary scan applications.  

This information is based solely on the provided knowledge base.

Enhanced SCAN bridge Multidrop Addressable IEEE 1149.1 (JTAG) Port The SCANSTA111SM is a Scan Test Aggregator (STA) manufactured by National Semiconductor (NS).  

### **Specifications:**  
- **Manufacturer:** National Semiconductor (NS)  
- **Type:** Scan Test Aggregator (STA)  
- **Function:** Aggregates multiple scan chains into a single test interface for efficient JTAG boundary scan testing.  
- **Interface:** IEEE 1149.1 (JTAG) compliant  
- **Operating Voltage:** Typically 3.3V (verify datasheet for exact range)  
- **Package:** Surface-mount (SM)  

### **Descriptions and Features:**  
- Enables high-speed scan testing by consolidating multiple scan chains.  
- Reduces test time by allowing parallel scan operations.  
- Supports boundary scan testing for complex digital systems.  
- Compatible with standard JTAG test equipment.  
- Used in PCB testing, system diagnostics, and manufacturing verification.  

For exact electrical characteristics and pin configurations, refer to the official datasheet from National Semiconductor.