Low Voltage IEEE 1149.1 System Test Access (STA) Master 49-NFBGA -40 to 85 The SCANSTA101SMX/NOPB is a Scan Test Access (STA) device manufactured by National Semiconductor (NSC).  

### **Specifications:**  
- **Type:** Boundary Scan Controller  
- **Supply Voltage:** 3.3V  
- **Operating Temperature Range:** -40°C to +85°C  
- **Package:** 48-Pin LLP (Leadless Leadframe Package)  
- **Interface:** IEEE 1149.1 (JTAG) compliant  
- **Data Rate:** Supports high-speed scan operations  

### **Descriptions:**  
The SCANSTA101SMX/NOPB is designed to facilitate boundary scan testing for complex digital systems. It provides test access to multiple JTAG-compliant devices in a daisy-chain configuration, enabling efficient debugging and system validation.  

### **Features:**  
- Supports IEEE 1149.1 (JTAG) standard  
- 3.3V operation with 5V-tolerant I/O  
- Multiple scan chain management  
- Low-power consumption  
- Compact LLP package for space-constrained applications  

This device is commonly used in PCB testing, system diagnostics, and embedded system validation.  

(Note: NSC (National Semiconductor) is now part of Texas Instruments.)