9 Channel Bus LVDS Transceiver w/ Boundary SCAN The SCAN92LV090SLC is a high-performance, low-voltage 9-bit configurable scan test device manufactured by National Semiconductor (NS).  

### **Key Specifications:**  
- **Technology:** CMOS  
- **Supply Voltage (VCC):** 3.3V (Low-voltage operation)  
- **Operating Temperature Range:** -40°C to +85°C  
- **Package:** SLC (Surface Mount)  
- **Functionality:** Configurable scan test logic for boundary scan applications  

### **Descriptions & Features:**  
- Designed for IEEE 1149.1 (JTAG) boundary scan testability.  
- Supports 9-bit scan chain configuration for test access.  
- Low-voltage operation (3.3V) for power-sensitive applications.  
- High-speed data transfer with robust signal integrity.  
- Suitable for board-level testing and system diagnostics.  
- Compatible with standard JTAG test equipment.  

This device is primarily used in digital systems requiring boundary scan testing for fault detection and debugging.