SCAN18373TSSCX

Transparent Latch with 3-STATE Outputs The part **SCAN18373TSSCX** is manufactured by **FAIRCHILD** (Fairchild Semiconductor).  

### **Specifications:**  
- **Manufacturer:** Fairchild Semiconductor  
- **Part Number:** SCAN18373TSSCX  
- **Type:** Digital IC (Integrated Circuit)  
- **Technology:** CMOS  
- **Package:** Likely a surface-mount package (exact package type not specified in the provided data)  

### **Descriptions & Features:**  
- **Function:** The SCAN18373TSSCX is a digital IC designed for scan test applications, commonly used in boundary-scan testing (JTAG) for PCB debugging and validation.  
- **Compatibility:** Supports IEEE 1149.1 (JTAG) standards for test access and boundary-scan architecture.  
- **Applications:** Used in digital systems for testability, fault detection, and system diagnostics.  
- **Key Features:**  
  - Boundary-scan capability  
  - Supports serial test data transfer  
  - Facilitates interconnect testing in complex PCBs  

For exact electrical characteristics, pinout, and package details, refer to the official Fairchild datasheet.

Transparent Latch with 3-STATE Outputs