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K6F2008V2E-LF55 from SAMSUNG

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K6F2008V2E-LF55

Manufacturer: SAMSUNG

256Kx8 bit Super Low Power and Low Voltage Full CMOS Static RAM

Partnumber Manufacturer Quantity Availability
K6F2008V2E-LF55,K6F2008V2ELF55 SAMSUNG 2148 In Stock

Description and Introduction

256Kx8 bit Super Low Power and Low Voltage Full CMOS Static RAM The K6F2008V2E-LF55 is a memory IC manufactured by Samsung. Below are the factual specifications, descriptions, and features from the available knowledge base:  

### **Specifications:**  
- **Manufacturer:** Samsung  
- **Part Number:** K6F2008V2E-LF55  
- **Type:** Non-Volatile Memory (likely Flash or EEPROM)  
- **Density:** 2Mbit (256K x 8)  
- **Supply Voltage:** 2.7V - 3.6V  
- **Interface:** Parallel  
- **Operating Temperature:** Commercial/Industrial range (exact range not specified)  
- **Package:** LF55 (likely a 55-pin package, exact type not specified)  

### **Descriptions & Features:**  
- Designed for embedded systems requiring non-volatile storage.  
- Supports byte-wide data access (x8 organization).  
- Low power consumption suitable for battery-operated devices.  
- High reliability with endurance and data retention typical of Samsung memory products.  

For detailed datasheet information, refer to Samsung's official documentation.

Application Scenarios & Design Considerations

256Kx8 bit Super Low Power and Low Voltage Full CMOS Static RAM # Technical Documentation: K6F2008V2ELF55 2M x 8-Bit CMOS NAND Flash Memory

 Manufacturer : SAMSUNG  
 Component : K6F2008V2ELF55  
 Type : 16Mbit (2M x 8-bit) NAND Flash Memory  
 Technology : CMOS  
 Package : 55-lead TSOP Type I (Standard)

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## 1. Application Scenarios

### Typical Use Cases
The K6F2008V2ELF55 is a 16Mbit NAND Flash memory organized as 2,097,152 words x 8 bits, designed for applications requiring non-volatile data storage with moderate density. Its primary use cases include:

-  Data Logging Systems : Suitable for storing sequential data in industrial sensors, environmental monitors, and metering equipment where data is written in blocks and retained during power loss.
-  Firmware Storage : Used as secondary code storage in embedded systems, where the main program is loaded from this NAND Flash into RAM or executed in-place with a bootloader.
-  Configuration Storage : Stores device parameters, calibration data, and user settings in consumer electronics, networking hardware, and automotive control units.
-  Buffering and Caching : Acts as a temporary storage medium in communication devices (e.g., routers, modems) to buffer network packets or cache frequently accessed data.

### Industry Applications
-  Consumer Electronics : Digital cameras, printers, set-top boxes, and portable media players for storing media files, fonts, or system updates.
-  Industrial Automation : Programmable Logic Controllers (PLCs), Human-Machine Interfaces (HMIs), and data acquisition systems for storing operational logs and machine parameters.
-  Telecommunications : Network switches, routers, and base stations for firmware and configuration storage.
-  Automotive : Infotainment systems, instrument clusters, and telematics units (non-safety-critical applications) where moderate temperature ranges are involved.
-  Medical Devices : Patient monitoring equipment and diagnostic tools for storing historical data and device settings.

### Practical Advantages and Limitations
 Advantages: 
-  Cost-Effective : Lower price per bit compared to NOR Flash, making it suitable for high-volume, cost-sensitive applications.
-  High Density : 16Mbit capacity provides ample storage for code, data, or multimedia in compact designs.
-  Non-Volatile : Retains data without power, ensuring persistence across cycles.
-  Block Erase Capability : Efficient for large data updates, with typical block erase time of 2 ms.
-  Low Power Consumption : Active current of 25 mA (typical) and standby current of 100 µA (max), beneficial for battery-powered devices.

 Limitations: 
-  Sequential Access : NAND Flash requires block-oriented operations; random byte access is inefficient, making it less ideal for execute-in-place (XIP) applications without a RAM buffer.
-  Limited Endurance : Typical endurance of 100,000 program/erase cycles per block, which may require wear-leveling algorithms in write-intensive applications.
-  Error-Prone : Higher bit error rates compared to NOR Flash, often necessitating Error Correction Code (ECC) implementation (e.g., 1-bit correction per 256 bytes).
-  Slower Read Speed : Random read access time of 25 µs (max), slower than NOR Flash, impacting performance in real-time systems.

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## 2. Design Considerations

### Common Design Pitfalls and Solutions
1.  Pitfall :  Data Corruption During Power Loss   
   -  Issue : Sudden power-off during write/erase operations can corrupt data or damage blocks.  
   -  Solution : Implement power-fail detection circuits and software routines to complete or abort operations safely. Use redundant storage for critical data.

2.  Pitfall :  Wear-Out

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