IC Phoenix logo

Home ›  D  › D7 > DDC112Y/250G4

DDC112Y/250G4 from TI/BB,Texas Instruments

Fast Delivery, Competitive Price @IC-phoenix

If you need more electronic components or better pricing, we welcome any inquiry.

DDC112Y/250G4

Manufacturer: TI/BB

Dual Current Input 20-Bit Analog-To-Digital Converter 32-TQFP -40 to 85

Partnumber Manufacturer Quantity Availability
DDC112Y/250G4,DDC112Y250G4 TI/BB 150 In Stock

Description and Introduction

Dual Current Input 20-Bit Analog-To-Digital Converter 32-TQFP -40 to 85 The DDC112Y/250G4 is a digital-to-analog converter (DAC) manufactured by Texas Instruments (TI), formerly Burr-Brown (BB). Below are its key specifications:  

- **Manufacturer**: Texas Instruments (TI)/Burr-Brown (BB)  
- **Model**: DDC112Y/250G4  
- **Type**: Digital-to-Analog Converter (DAC)  
- **Resolution**: 12-bit  
- **Output Type**: Voltage  
- **Supply Voltage**: ±15V  
- **Operating Temperature Range**: -40°C to +85°C  
- **Package**: 16-pin DIP (Dual Inline Package)  
- **Interface**: Parallel  
- **Settling Time**: Typically 10µs  
- **Linearity Error**: ±1 LSB (max)  
- **Power Consumption**: 175mW (typical)  

For further details, refer to the official datasheet from Texas Instruments.

Application Scenarios & Design Considerations

Dual Current Input 20-Bit Analog-To-Digital Converter 32-TQFP -40 to 85# Technical Documentation: DDC112Y250G4 20-Bit, 250pC Dual-Channel Integrating ADC

 Manufacturer : Texas Instruments / Burr-Brown (TI/BB)
 Component Type : High-Precision, Dual-Channel, Current-Input Analog-to-Digital Converter (ADC)

---

## 1. Application Scenarios

### Typical Use Cases
The DDC112Y250G4 is a specialized integrating ADC designed for applications requiring precise measurement of very low-level currents, typically from high-impedance sources. Its core function is to accumulate (integrate) input charge over a programmable period and digitize the result with 20-bit resolution.

*    Primary Use : Direct digitization of current outputs from  photodiodes  and other photovoltaic sensors. The device integrates the photocurrent, converting the total accumulated charge into a digital value, which is ideal for measuring light intensity over time.
*    Secondary Use : Measurement of currents from other low-noise, high-impedance transducers such as ionization chambers, electron multipliers, and certain chemical sensors.

### Industry Applications
1.   Analytical & Scientific Instrumentation :
    *    Spectrophotometers & Colorimeters : Measures light intensity at specific wavelengths after passing through a sample.
    *    Gas Chromatography (GC) and Mass Spectrometry (MS) Detectors : Digitizes minute currents from flame ionization (FID), electron capture (ECD), or Faraday cup detectors.
    *    X-ray and Radiation Detection : Interfaces with solid-state or scintillation detectors for photon counting and energy measurement in security, medical, and research equipment.

2.   Industrial Process Control :
    *    High-Precision Densitometers : Used in paper, film, and coating industries to measure optical density.
    *    Laser Power Monitoring : Provides stable, accurate measurement of low-power laser beams in manufacturing and alignment systems.
    *    Environmental Monitoring : Air/water quality sensors that rely on optical absorption techniques.

3.   Medical & Life Sciences :
    *    DNA Sequencers & Flow Cytometers : Detects fluorescence from labeled biomarkers.
    *    Bone Densitometers : Measures X-ray absorption for bone density analysis.

### Practical Advantages and Limitations

 Advantages: 
*    High Resolution & Dynamic Range : 20-bit resolution with a full-scale input range of 250pC per integration cycle enables measurement of signals from picoamperes to microamperes.
*    Low Noise Performance : The integrating architecture inherently averages out high-frequency noise, and the internal design minimizes `kT/C` noise, making it superb for DC and low-frequency measurements.
*    Dual-Channel Design : Two fully independent input channels with simultaneous integration simplify system design for differential or dual-beam measurements.
*    Direct Current-to-Digital Conversion : Eliminates the need for a transimpedance amplifier (TIA) stage, reducing component count, potential noise sources, and board space.

 Limitations: 
*    Limited Bandwidth : The integrating process is inherently slow. The effective bandwidth is determined by the integration time (`T_{INT}`). It is unsuitable for high-speed or AC signal measurement beyond a few hundred Hz.
*    Input Current Overflow : If the input current causes the integrator to exceed its ±250pC range within a cycle, the data is invalid. Careful estimation of maximum expected current and setting of `T_{INT}` is critical.
*    Complex Timing & Control : Requires a precision external clock and careful management of the four-phase conversion cycle (Integrate, Deintegrate, Auto-Zero, Reset). Microcontroller firmware complexity is higher than for a standard SAR or Delta-Sigma ADC.

---

## 2. Design Considerations

### Common Design Pitfalls and Solutions
*    Pitfall 1: Input

Request Quotation

For immediate assistance, call us at +86 533 2716050 or email [email protected]

Part Number Quantity Target Price($USD) Email Contact Person
We offer highly competitive channel pricing. Get in touch for details.

Specializes in hard-to-find components chips