IC Phoenix logo

Home ›  D  › D7 > DDC112Y/250

DDC112Y/250 from TI/BB,Texas Instruments

Fast Delivery, Competitive Price @IC-phoenix

If you need more electronic components or better pricing, we welcome any inquiry.

DDC112Y/250

Manufacturer: TI/BB

Dual Current Input 20-Bit Analog-To-Digital Converter

Partnumber Manufacturer Quantity Availability
DDC112Y/250,DDC112Y250 TI/BB 394 In Stock

Description and Introduction

Dual Current Input 20-Bit Analog-To-Digital Converter The DDC112Y/250 is a dual-channel, wide dynamic range, current-input analog-to-digital converter (ADC) manufactured by Texas Instruments (TI) or Burr-Brown (BB).  

### Key Specifications:  
- **Channels**: Dual-channel (2 independent inputs)  
- **Input Type**: Current input  
- **Resolution**: 20-bit  
- **Sampling Rate**: Up to 250 kSPS (kilo samples per second)  
- **Input Current Range**: ±50 µA (configurable)  
- **Integral Nonlinearity (INL)**: ±0.5 LSB (typical)  
- **Power Supply**: ±5V (analog), +5V (digital)  
- **Power Consumption**: ~500 mW (typical)  
- **Package**: 48-pin TQFP (Thin Quad Flat Package)  
- **Operating Temperature Range**: -40°C to +85°C  

### Applications:  
- Photodiode sensor readout  
- Spectroscopy  
- Medical imaging  
- High-precision current measurement  

For exact details, refer to the official datasheet from Texas Instruments.

Application Scenarios & Design Considerations

Dual Current Input 20-Bit Analog-To-Digital Converter# Technical Documentation: DDC112Y250 Dual Current Input 20-Bit Analog-to-Digital Converter

 Manufacturer : Texas Instruments / Burr-Brown (TI/BB)
 Component : DDC112Y250
 Description : Dual-Channel, Wide-Dynamic Range, Current-Input 20-Bit ΣΔ ADC with Integrated Current-to-Voltage Amplifiers

---

## 1. Application Scenarios

### Typical Use Cases
The DDC112Y250 is specifically engineered for precision measurement of low-level currents from high-impedance sources. Its primary use cases involve direct interfacing with photodiodes, ionization chambers, and other current-output sensors without requiring external transimpedance amplifiers (TIAs). Each channel integrates a programmable integrator, a 20-bit ΣΔ ADC, and associated control logic, enabling simultaneous sampling of two independent current sources.

 Key Operational Modes: 
*    Continuous Integration Mode:  For measuring steady or slowly varying currents, providing high-resolution data at a programmable conversion rate.
*    Fast-Settling Mode:  Used when measuring pulsed or rapidly changing currents, where the integrator reset time is minimized to capture transient events accurately.

### Industry Applications
*    Analytical & Medical Instrumentation: 
    *    Photometry & Spectrophotometry:  Measuring light intensity from photodiodes in HPLC (High-Performance Liquid Chromatography), UV-Vis spectrometers, and fluorescence detectors. The integrated design minimizes noise pickup in sensitive optical front-ends.
    *    Computed Tomography (CT) & Digital X-Ray:  Interfacing directly with photodiode arrays or ionization chambers that detect X-rays converted to light by scintillators. The dual-channel capability is ideal for multi-slice or dual-energy detection systems.
    *    Gas & Particle Detection:  Used in systems with photoionization detectors (PIDs) or electrometers for environmental monitoring and industrial safety.
*    Industrial Process Control: 
    *    High-Resolution Scanning:  Precision measurement in laser scanning, surface inspection, and non-contact dimensional gauging where a focused light spot generates a photocurrent.
    *    Electrostatic Monitoring:  Measuring minute currents in electrostatic discharge (ESD) or charge monitoring systems.
*    Scientific Research: 
    *    Mass Spectrometry:  Detecting ion currents from Faraday cups or electron multipliers.
    *    Low-Light-Level Physics:  Experiments involving photon counting or very weak luminescence, operating the device at its lowest input ranges.

### Practical Advantages and Limitations
 Advantages: 
*    System Simplification:  Eliminates the need for external, discrete TIA circuits, reducing component count, board space, and potential noise sources.
*    Excellent Dynamic Range:  Achieves >100 dB of dynamic range by combining a high-resolution 20-bit ADC with programmable full-scale ranges (from ±10 nA to ±1 μA for the Y250 variant).
*    Low Noise Performance:  The integrated architecture minimizes parasitic capacitance and interference, yielding superior noise performance for sub-picoampere level measurements.
*    Simultaneous Sampling:  Dual channels are sampled at the same instant, crucial for applications comparing two signals or requiring precise channel-to-channel phase matching.
*    Programmable Integration Time:  Offers flexibility to optimize the trade-off between conversion speed and resolution for a given application.

 Limitations: 
*    Limited to Current Inputs:  Not suitable for direct voltage measurement. Voltage-output sensors require a shunt resistor or other conversion method.
*    Input Bias Current:  While low (typically ±2 pA), it can introduce a small offset error when measuring extremely low currents (<100 pA), which may require software calibration.
*    Speed vs. Resolution Trade-off:  Highest resolution (lowest noise) is achieved at longer integration times, limiting the bandwidth for dynamic signals.
*    Power

Partnumber Manufacturer Quantity Availability
DDC112Y/250,DDC112Y250 TI 213 In Stock

Description and Introduction

Dual Current Input 20-Bit Analog-To-Digital Converter The DDC112Y/250 is a digital-to-analog converter (DAC) manufactured by Texas Instruments (TI). Below are its key specifications:

1. **Resolution**: 20-bit  
2. **Channels**: Dual-channel  
3. **Interface Type**: Serial (SPI-compatible)  
4. **Supply Voltage**: 2.7V to 5.5V  
5. **Operating Temperature Range**: -40°C to +85°C  
6. **Package**: 28-pin TSSOP  
7. **Integral Nonlinearity (INL)**: ±4 LSB (max)  
8. **Differential Nonlinearity (DNL)**: ±1 LSB (max)  
9. **Output Type**: Voltage  
10. **Settling Time**: 10µs (typical)  

For further details, refer to the official TI datasheet.

Application Scenarios & Design Considerations

Dual Current Input 20-Bit Analog-To-Digital Converter# Technical Documentation: DDC112Y250 20-Bit Current-Input Analog-to-Digital Converter

 Manufacturer : Texas Instruments (TI)
 Component : DDC112Y250
 Description : High-Precision, Dual-Channel, Current-Input, 20-Bit Σ-Δ ADC with Integrated Current-to-Voltage Amplifiers

---

## 1. Application Scenarios

### Typical Use Cases
The DDC112Y250 is specifically engineered for applications requiring precise measurement of low-level currents from high-impedance sources. Its integrated architecture eliminates the need for external transimpedance amplifiers (TIAs), making it ideal for direct sensor interfacing.

 Primary use cases include: 
-  Photodiode Current Measurement : Directly interfaces with photodiodes in spectrophotometers, laser power monitors, and particle detectors. The device's low input bias current (typically 10 pA) prevents signal loading.
-  Electrochemical Sensor Readout : Used in gas detectors, pH meters, and biosensors where sensor output is a small current proportional to analyte concentration.
-  Charge Integration Applications : Suitable for radiation detectors, scanning electron microscopes (SEM), and X-ray fluorescence (XRF) analyzers that output pulsed or integrated charge packets.

### Industry Applications

 Medical & Analytical Instrumentation: 
-  DNA Sequencers : Measures fluorescence signals from dye-labeled nucleotides.
-  High-Performance Liquid Chromatography (HPLC) : Detects low-current outputs from UV/VIS photodiode arrays.
-  Blood Analyzers : Interfaces with electrochemical sensors for glucose, oxygen, and electrolyte detection.

 Industrial & Scientific: 
-  Environmental Monitoring : Air quality sensors (e.g., for NO₂, O₃) often use electrochemical cells with nA-level outputs.
-  Materials Science : Thin-film thickness monitors using quartz crystal microbalances (QCM) or ellipsometers.
-  Semiconductor Manufacturing : Photomask inspection and wafer defect detection systems.

 Advantages: 
-  High Integration : Combines dual TIAs, integrators, ADCs, and multiplexers, reducing component count and board space.
-  Excellent Noise Performance : Typical input-referred noise of 3.5 fC RMS per channel enables sub-picoampere current resolution.
-  Wide Dynamic Range : 20-bit resolution with programmable full-scale ranges (250 pC, 500 pC, 1 nC, 2 nC) accommodates signals from fA to μA.
-  Simultaneous Sampling : Dual channels are sampled at the same instant, critical for ratio-metric or differential measurements.

 Limitations: 
-  Limited Bandwidth : The integrating architecture is optimal for DC or low-frequency AC currents (typically <100 kHz). Not suitable for high-speed transient capture.
-  Power Consumption : Typical 85 mW per channel may be prohibitive for ultra-low-power or battery-operated systems.
-  Complex Digital Interface : Requires careful microcontroller/DSP interfacing to manage data retrieval, calibration, and timing.

---

## 2. Design Considerations

### Common Design Pitfalls and Solutions

 Pitfall 1: Input Node Leakage Currents 
-  Issue : PCB contamination or poor guard ring implementation can introduce leakage currents rivaling the signal.
-  Solution : Implement a properly driven guard ring around the input traces and pins (INxA, INxB). Use low-leakage PCB materials (e.g., FR-4 with polyimide solder mask) and ensure thorough cleaning.

 Pitfall 2: Improper Reference Voltage Stability 
-  Issue : The internal reference (2.5 V) or an external reference dictates absolute accuracy. Noise or drift on REFIO pin causes gain error.
-  Solution : Bypass REFIO with a 10 µF tantalum and a 0.1 µF ceramic capacitor placed <5 mm from the

Request Quotation

For immediate assistance, call us at +86 533 2716050 or email [email protected]

Part Number Quantity Target Price($USD) Email Contact Person
We offer highly competitive channel pricing. Get in touch for details.

Specializes in hard-to-find components chips